傅里葉變換是白光頻域解調(diào)方法中一種低精度的信號解調(diào)方法,。早是由G.F.Fernando和T.Liu等人提出，用于低精度光纖法布里-珀羅傳感器的解調(diào),。因此,，該解調(diào)方案的原理是通過傅里葉變換得到頻域的峰值頻率從而獲得光程差，進而得到待測物理量的信息,。傅里葉變換解調(diào)方案的優(yōu)點是解調(diào)速度較快,，受干擾信號的影響較小。但是其測量精度較低,。根據(jù)數(shù)字信號處理FFT（快速傅里葉變換）理論,，若輸入光源波長范圍為[]λ1,λ2，則所測光程差的理論小分辨率為λ1λ2/(λ2?λ1),，所以此方法主要應用于對解調(diào)精度要求不高的場合,。傅里葉變換白光干涉法是對傅里葉變換法的改進。該方法總結起來就是對采集到的光譜信號做傅里葉變換,，然后濾波,、提取主頻信號后進行逆傅里葉變換，然后做對數(shù)運算,，并取其虛部做相位反包裹運算，由獲得的相位得到干涉儀的光程差,。該方法經(jīng)過實驗證明其測量精度比傅里葉變換高,。白光干涉膜厚測量技術可以對薄膜的表面和內(nèi)部進行聯(lián)合測量和分析。鎮(zhèn)江新型膜厚儀

利用包絡線法計算薄膜的光學常數(shù)和厚度,，但目前看來包絡法還存在很多不足,，包絡線法需要產(chǎn)生干涉波動,，要求在測量波段內(nèi)存在多個干涉極值點，且干涉極值點足夠多,，精度才高,。理想的包絡線是根據(jù)聯(lián)合透射曲線的切點建立的，在沒有正確方法建立包絡線時,，通常使用拋物線插值法建立,，這樣造成的誤差較大。包絡法對測量對象要求高,，如果薄膜較薄或厚度不足情況下,，會造成干涉條紋減少，干涉波峰個數(shù)較少,，要利用干涉極值點建立包絡線就越困難,，且利用拋物線插值法擬合也很困難，從而降低該方法的準確度,。其次,，薄膜吸收的強弱也會影響該方法的準確度，對于吸收較強的薄膜,，隨干涉條紋減少,，極大值與極小值包絡線逐漸匯聚成一條曲線，該方法就不再適用,。因此,，包絡法適用于膜層較厚且弱吸收的樣品。推薦膜厚儀生產(chǎn)商白光干涉膜厚測量技術的優(yōu)化需要對實驗方法和算法進行改進,。

在初始相位為零的情況下,，當被測光與參考光之間的光程差為零時，光強度將達到最大值,。為探測兩個光束之間的零光程差位置,，需要精密Z向運動臺帶動干涉鏡頭作垂直掃描運動或移動載物臺，垂直掃描過程中,，用探測器記錄下干涉光強,，可得白光干涉信號強度與Z向掃描位置（兩光束光程差）之間的變化曲線。干涉圖像序列中某波長處的白光信號強度隨光程差變化示意圖,，曲線中光強極大值位置即為零光程差位置,，通過零過程差位置的精密定位，即可實現(xiàn)樣品表面相對位移的精密測量,；通過確定最大值對應的Z向位置可獲得被測樣品表面的三維高度,。

論文主要以半導體鍺和貴金屬金兩種材料為對象，研究了白光干涉法、表面等離子體共振法和外差干涉法實現(xiàn)納米級薄膜厚度準確測量的可行性,。由于不同材料薄膜的特性不同,，所適用的測量方法也不同。半導體鍺膜具有折射率高,，在通信波段（1550nm附近）不透明的特點,，選擇采用白光干涉的測量方法；而厚度更薄的金膜的折射率為復數(shù),，且能激發(fā)的表面等離子體效應,，因而可借助基于表面等離子體共振的測量方法；為了進一步改善測量的精度,，論文還研究了外差干涉測量法,，通過引入高精度的相位解調(diào)手段，檢測P光與S光之間的相位差提升厚度測量的精度,。白光干涉膜厚測量技術可以在不同環(huán)境下進行測量,。

針對靶丸自身獨特的特點及極端實驗條件需求，使得靶丸參數(shù)的測試工作變得異常復雜,。如何精確地測定靶丸的光學參數(shù),，一直是激光聚變研究者非常關注的課題。由于光學測量方法具有無損,、非接觸,、測量效率高、操作簡便等優(yōu)越性,，靶丸參數(shù)測量通常采用光學測量方式,。常用的光學參數(shù)測量手段很多，目前,，常用于測量靶丸幾何參數(shù)或光學參數(shù)的測量方法有白光干涉法,、光學顯微干涉法、激光差動共焦法等,。靶丸殼層折射率是沖擊波分時調(diào)控實驗研究中的重要參數(shù),，因此，精密測量靶丸殼層折射率十分有意義,。而常用的折射率測量方法[13],，如橢圓偏振法、折射率匹配法,、白光光譜法,、布儒斯特角法等。白光干涉膜厚測量技術可以應用于生物醫(yī)學中的薄膜生物學特性分析,。推薦膜厚儀生產(chǎn)商

白光干涉膜厚測量技術可以應用于激光加工中的薄膜吸收率測量,。鎮(zhèn)江新型膜厚儀

為限度提高靶丸內(nèi)爆壓縮效率,，期望靶丸所有幾何參數(shù)、物性參數(shù)均為理想球對稱狀態(tài),。因此，需要對靶丸殼層厚度分布進行精密的檢測,。靶丸殼層厚度常用的測量手法有X射線顯微輻照法,、激光差動共焦法、白光干涉法等,。下面分別介紹了各個方法的特點與不足,，以及各種測量方法的應用領域。白光干涉法[30]是以白光作為光源,，寬光譜的白光準直后經(jīng)分光棱鏡分成兩束光,，一束光入射到參考鏡。一束光入射到待測樣品,。由計算機控制壓電陶瓷(PZT)沿Z軸方向進行掃描,，當兩路之間的光程差為零時，在分光棱鏡匯聚后再次被分成兩束,，一束光通過光纖傳輸,，并由光譜儀收集，另一束則被傳遞到CCD相機,，用于樣品觀測,。利用光譜分析算法對干涉信號圖進行分析得到薄膜的厚度。該方法能應用靶丸殼層壁厚的測量,，但是該測量方法需要已知靶丸殼層材料的折射率,，同時，該方法也難以實現(xiàn)靶丸殼層厚度分布的測量,。鎮(zhèn)江新型膜厚儀

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